药物中无效或低效晶型的检查A.GCB.HPLCC.旋光度法D.PCE.IR

紫外A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760

可见光A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—76

红外A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760

荧光A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760

药物中无效或低效晶型的检查方法是A.熔点测定法B.旋光度测定法C.紫外分光光度法D.红外分光光度法

无效或低效的晶型杂质检查的检查方法是A.紫外－可见分光光度法 B.红外分光光度法C. TLC 法D