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问题

测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮;B、整体劣化;C、小体积试品的局


测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。

A、整体受潮;

B、整体劣化;

C、小体积试品的局部缺陷;

D、大体积试品的局部缺陷。

参考答案
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