假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一

假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：

A.50%

B.0%

C.37%

D.10%