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激光测长仪和激光测振仪均以迈克尔逊干涉仪为基础,前者通过计算干涉条纹数的变化来测量长度,后


激光测长仪和激光测振仪均以迈克尔逊干涉仪为基础,前者通过计算干涉条纹数的变化来测量长度,后者通过测定检测光与参照光的相位差所形成的干涉条纹数而测量振幅。()

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