无效或低效的晶型杂质检查的检查方法是A.紫外－可见分光光度法 B.红外分光光度法C. TLC 法D

紫外A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760

可见光A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—76

红外A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760

荧光A.波长200～400 NM B.光谱性质为发射光谱 C.可用于无效或低效晶型杂质检查 D.波长400—760

药物中无效或低效晶型的检查A.GCB.HPLCC.旋光度法D.PCE.IR

红外分光光度法在杂质检查中主要用于药物中无效或低效晶形的检查。