在陶瓷盘上测量晶片厚度采用的是数显千分表。()

超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越薄

电气工程测量各种距离尺寸用（)或采用其他仪器、仪表等测量。A.塞尺B.游标卡尺C.皮尺D.钢尺E.千

将厚度为1mm且垂直于光轴切出的石英晶片放在两平行的偏振片之间 某一波长的光波经过晶片后偏振面旋转

厚度是指土工合成材料在承受规定的压力下正反两面之间的距离 采用()直接测量。

换能器频率与晶片厚度有关 晶片越() 频率越() 材料对声能的衰减越()。

某压电晶体的频率常数Nt=2000KHz·mm 欲制作中心频率5MHz的晶片 其晶片厚度应为()