一般来说 被试设备的体积电容愈大 或局部集中缺陷的范围愈小 总体tanδ的数值增加也就愈小 对

一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。()