中心导体法检测工件端面缺陷比轴向通电法灵敏度高。()

用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷 当波长为λ的单色平行光垂直入射时 若观察到的干涉条纹如图所示 每一

用劈尖干涉法可检测工件表面缺陷 当波长为入的单色平行光垂直入射时 若观察到的干涉条纹如下图所

用劈尖干涉法可检测工件的表面缺陷 当波长为λ的单色平行光垂直入射时 若观察到的干涉条纹如图所

超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的 两者的区别主要在探头的数量。()

当工件外径相同 通过电流相同时 两端接触直流通电法和中心导体法在工件外表面产生的磁场强度相等。()

中心导体法 对于大直径和管壁很厚的工件 管外表面的灵敏度比内表面有所下降()