以下关于MOS空间电荷区宽度的说法中,正确的是()。
A、半导体表面反型时,空间电荷区宽度达到最大值
B、空间电荷区宽度最大时,强反型区的电子或空穴会屏蔽表面电场
C、空间电荷区宽度达到最大值后,表面势的变化不会引起空间电荷区宽度的变化
D、对于n型,外加电压VG>0并逐渐增大时,空间电荷区宽度逐渐增大直至达到最大值
PN结加正向电压时,空间电荷区将变宽。()
静电危害是由静电电荷和静电场能量引起的。下列关于生产过程所产生静电的危害形式和事故后果的说法中 正
PN结加正向电压时 空间电荷区将()。A.变窄B.基本不变C.加宽
PN结加正向电压时 空间电荷区将变宽。()
在外电场的作用下 电介质的极化是由正 负离子相对位移形成的称为空间电荷极化。
P型半导体与N型半导体的交界面处形成的空间电荷区叫做()。