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问题

● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中(39) 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。 (39)A. BIST B.


● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。

(39)A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

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