● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中（39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。 （39）A. BIST B.

● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。

（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

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